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Forschung und Lehre

Auftragsforschung

Institut

Impressum


Investitionen wurden im Rahmen des „Ziel-2-Programms Rheinland-Pfalz“ von der EU und dem Land Rheinland-Pfalz kofinanziert

auftragsforschung:ausstattung

Ausstattung

  • Elektronenspektroskopie
    • Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
    • Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS, ESCA)
    • Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS)
  • Oberflächenmassenspektrometrie
    • dynamische Sekundärionen-Massenspektrometrie (dynamisches SIMS)
    • Flugzeit-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
    • Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)
    • 3D-Atomsonden-Tomografie (3D-APT)
  • Mikrobereichsanalyse
    • Rasterelektronenmikroskopie (REM, SEM) mit
      • energiedispersiver Röntgenanalytik (EDX)
      • wellenlängendispersiver Röntgenanalytik (WDX)
      • Beugung rückgestreuer Elektronen (EBSD)
    • Focused Ion-Beam in Kombination mit Rasterektronenmikroskop (Dual-Beam-FIB)
  • Nanobereichsanalyse
    • Transmissions-Elektronenmikroskopie (TEM) mit
      • energiedispersive Röntgenanalytik (EDX)
      • Elektronenenerieverlustspektroskopie (EELS)
      • Elektronenbeugung in Transmission (TED, SAD)
      • automatisiertes Kristall-Orientierungs-Mapping (ACOM)
      • TEM-Präparation (Ultramikrotomie, Ionendünnen, FIB, …)
    • Rasterkraftmikroskopie (SFM, AFM)
    • Mikro- und Nanoindentation
    • Nanoscratch
  • Röntgenanalyse
    • Röntgendiffraktometrie (XRD)
    • Röntgenreflektometrie (XRR)
  • weiteres
    • Tribometrie
    • Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie (FTIR)
    • Raman-Spektroskopie
    • UV-Vis-Spektroskopie
    • Weißlichtinterferometrie (WLI)
    • Kontaktwinkelanalyse
    • Metallografie
    • Lichtmikroskopie

auftragsforschung/ausstattung.txt · Zuletzt geändert: 2017/09/28 15:23 von reuscher@ifos.uni-kl.de

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