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institut [2011/12/01 19:15]
chemist@dostortugas.org
institut [2011/12/14 09:02] (aktuell)
wahl@ifos.uni-kl.de
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 Der Forschungsschwerpunkt des Instituts ist die Bestimmung der Zusammensetzung,​ der chemischen Bindungseigenschaften und der Struktur von Festkörperoberflächen und Dünnschichtsystemen. Das IFOS bietet Nutzern aus der Industrie, Universitäten ​ und aus anderen Forschungseinrichtungen direkten Zugang zu den heute verfügbaren,​ in der Regel sehr aufwendigen und teuren Analysetechniken und unterstützt damit nachhaltig den Transfer dieser Verfahren in die technologische und industrielle Praxis. Der Forschungsschwerpunkt des Instituts ist die Bestimmung der Zusammensetzung,​ der chemischen Bindungseigenschaften und der Struktur von Festkörperoberflächen und Dünnschichtsystemen. Das IFOS bietet Nutzern aus der Industrie, Universitäten ​ und aus anderen Forschungseinrichtungen direkten Zugang zu den heute verfügbaren,​ in der Regel sehr aufwendigen und teuren Analysetechniken und unterstützt damit nachhaltig den Transfer dieser Verfahren in die technologische und industrielle Praxis.
  
-Hierzu wird im IFOS das komplette Spektrum der heute verfügbaren Methoden zur höchstauflösenden chemischen und strukturellen Analyse von Oberflächen und dünnen Schichten eingesetzt: Elektronenspektroskopische und massenspektrometrische Verfahren (AES, XPS bzw. SIMS, SNMS und 3D Atomsonden-Tomografie) ermöglichen die Charakterisierung der chemischen Zusammensetzung von Oberflächen und Dünnschichtstrukturen mit hoher vertikaler ​Auflösung im sub-µm-Bereich ​sowie einer lateralen Auflösung ​unterhalb 10 Nanometer. Feinbereichsanalysen bis in atomare Dimensionen erlauben Rasterkraft- (AFM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Ferner stehen moderne Anlagen zur Röntgenstruktur- (XRD) und Focused Ion Beam – Analyse (FIB) zur Verfügung. ​+Hierzu wird im IFOS das komplette Spektrum der heute verfügbaren Methoden zur höchstauflösenden chemischen und strukturellen Analyse von Oberflächen und dünnen Schichten eingesetzt: Elektronenspektroskopische und massenspektrometrische Verfahren (AES, XPS bzw. SIMS, SNMS und 3D Atomsonden-Tomografie) ermöglichen die Charakterisierung der chemischen Zusammensetzung von Oberflächen und Dünnschichtstrukturen mit hoher vertikaler sowie lateralen Auflösung ​bis herab in den Nanometerbereich. Feinbereichsanalysen bis in atomare Dimensionen erlauben Rasterkraft- (AFM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Ferner stehen moderne Anlagen zur Röntgenstruktur- (XRD) und Focused Ion Beam – Analyse (FIB) zur Verfügung. ​
  
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institut.txt · Zuletzt geändert: 2011/12/14 09:02 von wahl@ifos.uni-kl.de

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