18:00 | Get-Together (Institutsgebäude IFOS GmbH) |
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08:00 | Anmeldung | |||
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09:00 | Eröffnung (Fraunhoferzentrum Kaiserslautern) | |||
09:30 | HV1 | Thin film characterization with X-ray microscopy using lab-based and synchrotron radiation sources | ||
Ehrenfried Zschech, Sven Niese, Gerd Schneider | ||||
Neue methodische und gerätetechnische Entwicklungen | ||||
10:10 | KV1 | Trockenätzkontrolle an einer Reaktivionenätzanlage (RIE) mittels Reflektivitätsanisotropie-Spektroskopie (RAS) | ||
Lars Barzen, J. Richter, H. Fouckhardt, M. Wahl, M. Kopnarski | ||||
10:30 | KV2 | Unkonventionelle Verfahren der Werkstoffcharakterisierung | ||
Hans-Jürgen Ullrich, Alexander Huhle, Marek Danczak, Stefan Radloff, Vinzenz Geske, Niels Modler,Maik Gude, Werner Hufenbach | ||||
10:50 | KV3 | Methodik zur tiefenaufgelösten und quantitativen Nach-weisbarkeit von Chrom(VI) in Elektroisolierbeschichtungen | ||
Theresia Greunz, H. Duchaczek, R. Sagl, R. Steinberger, B. Strauß, D. Stifter | ||||
11:10 | Pause | |||
11:40 | HV2 | Quantitative SIMS Tiefenprofilanalyse dünner Schichten – Methoden und Beispiele aus der Praxis – | ||
Kirsten Ingolf Schiffmann | ||||
Tiefenprofilanalysen | Vorbehandlung von Oberflächen | |||
12:20 | KV4 | TOF-SIMS Analyse von organischen und anorganischen Multischichtsystemen mit großen Argon- und Sauerstoffclusterionen | KV 6 | Reinigung proteinbedeckter Substrate |
Sven Kayser, Derk Rading, Rudolf Möllers, Ewald Niehuis | Fabian Kratz, C. Müller-Renno, C. Scheibe, N. Davoudi, N. Umanskaya, S. Grass, C. Schlegel, M. Hannig, R. Ulber, Ch. Ziegler | |||
12:40 | KV5 | Präparation von galvannealten Feinblechen mittels Ionenstrahl – Böschungsätzen zur Charakterisierung von Zn-Fe - Phasen | KV7 | Untersuchungen zum Mechanismus der Aktivierung, Keimbildung und des Zinkphosphatkristallwachstums auf industriell produziertem Stahlfeinblech |
Raffaela Sagl, T. Haunschmied, R. Aichinger, M. Arndt, T. Mörtlbauer, C. Commenda, A. Schönauer | Fabian Junge, G. Müller, N. Weiher, M. Köckerling | |||
13:00 | Mittagspause | |||
14:20 | HV3 | Elektronische Eigenschaften und Wechselwirkungen an metallorganischen Grenzschichten | ||
Benjamin Stadtmüller, N. Haag, J. Stöckl, J. Seidel, M. Laux, N. Großmann, S. Steil, M. Cinchetti, M. Aeschlimann | ||||
Oberflächen- und Grenzflächenanalyse - organische Materialien – | Charakterisierung von photonischen Materialien | |||
15:00 | KV8 | Modification of Metal Electrodes by Self-Assembled for Air stable n-type Organic Field-Effect Transistors | KV12 | Depth Profiling of OLED Materials by Cluster Ion Beams |
Benedikt Baumann, Thomas Weitz, Stefan Lach, Christiane Ziegler | Andrey Lyapin, John S. Hammond, Sankar N. Raman, Scott R. Bryan, Nicholas. C. Erickson and Russell J. Holmes | |||
15:20 | KV9 | Charakterisierung bio/polymermodifizierter Oberflächen mittels XPS und ToF-SIMS | KV13 | Experimentelle Untersuchung der Mg Dotierung von GaN mittels Atomsonden Tomografie |
Michael Bruns, C.M. Preuss, V. Trouillet, V. Winkler, C. Barner-Kowollik | Michael Wahl, D. Gregorius, R. Schiller, J. Lösch, M. Kopnarski, S. Khromov, L. Hultman | |||
15:40 | KV10 | Hybridisierungseffekte an der Grenzfläche zwischen organischen Molekülen und topologischen Isolatoren | KV14 | Charakterisierung N-substituierter 3,8-Dithienyl-Phenothiazine für die organische Photovoltaik |
Sebastian Jakobs, A. Narayan, M. Laux, N. Großmann, D. Jungkenn, A. Ruffing, B. Stadtmüller, A. Droghetti, O. L. A. Monti, R. J. Cava, S. Mathias, S. Sanvito, M. Aeschlimann, M. Cinchetti | Mathias Fingerle, Maximilian Hemgesberg, Sebastian Schmitt, Yvonne Schmitt, Stefan Lach, Markus Gerhards, Christoph van Wüllen, Werner R. Thiel und Christiane Ziegler | |||
16:00 | KV11 | Spinaufgelöste Photoemissionsstudie verschiedener Phthalocyanin-Kobalt-Grenzflächen für Anwendungen in der organischen Spintronik | KV15 | Thermografie zur Optimierung von LED-Leuchtstoffen |
Anna Altenhof, Stefan Lach und Christiane Ziegler | Peter Nolte, F. Wagner, S. Loos, F. Steudel, B. Ahrens und S. Schweizer | |||
16:20 | Pause | |||
16:40 | HV4 | Single-molecule reactions – imaging chemical bonds and tuning electronic structure | ||
Alexander Riss | ||||
Rastersondenmethoden | ||||
17:20 | KV16 | In situ Rastertunnelmikroskopie-Untersuchung des kristallinen Schichtsystems [(VSe2)1.15]5[(TaSe2)5] | ||
Pavel Shukrynau, Ryan Atkins, David C. Johnson and Michael Hietschold | ||||
17.40 | Pause | |||
18:00 | Postersitzung |
08:10 | Workshop Analytical Tribology Network ATN (IFOS Gebäude) | |||
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09:50 | HV5 | Oberflächenanalytik mittels Röntgenphotoelektronen- und Augerelektronenspektroskopie am Beispiel von ZnMgAl-Beschichtungen auf Stahl | ||
D. Stifter | ||||
Oxidation von Metallen | ||||
10:30 | KV17 | Verschiedene Aspekte zu XPS-Untersuchungen von ZnCr Korrosionsschutzschichten auf Stahlblech | ||
Roland Steinberger, J. Duchoslav, M. Arndt, T. Steck, F. Lengwin, J. Faderl, D. Stifter | ||||
10:50 | KV18 | Veränderungen der Oxidschicht von gebeiztem Zn-Al-Mg | ||
Daniel Roman Fritz, Christian K. Riener, Raffaela Sagl, Martin Arndt, Martin Rosner, David Stifter | ||||
11:10 | KV19 | AES-Untersuchung des Einflusses von Vor-oxidation auf die Oxidbildung und das Benetzungs-verhalten hochfesten Stahls der 2. Generation (AHSS) nach Feuerverzinkung | ||
Martin Arndt, J. Duchoslav, R. Steinberger, G. Hesser, C. Commenda, L. Samek, D. Stifter | ||||
11:30 | Moderierte Führung durch die Firmenausstellung | |||
13:00 | Mittagspause | |||
14:20 | HV6 | Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung der Mechanismen von Reibung und Verschleiß | ||
Roland Bennewitz | ||||
Triboanalytik 1 | ||||
15:00 | KV20 | Bioinspirierte AFM-basierende Methode zur semiquantitativen Messung von lokalen Scherraten an Grenzflächen | ||
Klaus Bonazza, Gerald Schrenk, Johannes Frank, Hanspeter Rottensteiner, Peter Turecek, Günter Allmaier, Gernot Friedbacher | ||||
15:20 | KV21 | Untersuchung des Haftungsmechanismus von PU geschlichteten E-Glas Fasern mittels XPS | ||
Jens Sicking, Thomas Feller, Hans Grablowitz | ||||
15:40 | KV22 | Untersuchung von elementaren Reibkontakten mittels Nano-Ritztest | ||
Alexander Brodyanski, Michael Kopnarski | ||||
16:00 | Pause | |||
16:40 | HV7 | Oberflächenanalytik und tribologische Fragestellungen aus den Bereichen Getriebe-, Wälzlager-, Dichtungs- und Schmierungstechnik | ||
Gerhard Poll | ||||
Triboanalytik 2 | ||||
17:20 | KV23 | Einfluss von Einlaufprozessen auf die Verschleißschutzwirkung von Schmierölen und Schmierfetten im Wälzlager | ||
Gero Burghardt, G. Jacobs, C. Hentschke | ||||
17:40 | KV24 | Charakterisierung von tribologisch beanspruchten Oberflächen mit Oberflächenanalytischen Methoden | ||
Rolf Merz, Michael Kopnarski | ||||
18:00 | KV25 | Characterization of Modified Steel Surfaces with Scanning Auger and Scanning Microprobe XPS | ||
Andrey Lyapin, J. S. Hammond, D. F. Paul, S. Alnabulsi, W. Betz | ||||
18:20 | KV26 | Imaging and Characterization of System Surfaces and Tribologically: Relevant Interaction Processes of Tribological Systems with ToF-SIMS | ||
Ullrich Gunst | ||||
18:40 | Pause | |||
19:00 | Podiumsdiskussion „Tribo meets Surface Analysis“ | |||
20.00 | Firmenabend |
8:40 | HV8 | Aktuelle Herausforderungen und Entwicklungen in der modernen Ionenstrahlanalytik | ||
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Johannes von Borany | ||||
Nachweis von Wasserstoff in Metallen | ||||
9:20 | KV27 | Analyse von Wasserstoff mit Hilfe der Thermischen Desorptionsmassenspektrometrie TDMS | ||
Mark Schülke, Hubert Paulus, Gábor Kiss, Martin Lammers, Karl-Heinz Müller | ||||
9:40 | KV28 | Wasserstoff in Metallen | ||
S. Wanjelik, Mathias Getzlaff | ||||
10:00 | Pause | |||
10:10 | Laudatio and Awarding of the Badge of Honor of the German Vacuum Society DVG to Professor Dr. Hans Oechsner (IFOS and TU-Kaiserslautern, Germany) | |||
10:30 | Laudatio and Presentation of the Rudolf Jaeckel-Prize 2014 of the German Vacuum Society DVG to Professor Dr. Wolf-Dieter Schneider (EPFL, Lausanne, Switzerland) | |||
10:50 | Spectroscopic manifestations of low-dimensional physics: A small world | |||
Laureate Lecture by W.-D. Schneider | ||||
11:30 | Pause | |||
Charakterisierung von Materialien für Li-Ionen Batterien | ||||
12:00 | KV29 | AES investigations at Li-ion battery materials: Challenges and limitations | ||
Martin Hoffmann, S. Oswald, M. Zier, J. Eckert | ||||
12:20 | KV30 | Zusammenhang zwischen der chemischen Zusammensetzung, Mikrostruktur und den elektrochemischen Eigenschaften von Li-Ni-Mn-Co-O Dünnschichtkathoden für Lithium-Ionen Batterien | ||
Marc Strafela, J. Fischer, H. Leiste, M. Rinke, T. Bergfeldt, S. Ulrich, H.J. Seifert | ||||
12:40 | KV31 | XPS energy referencing at Li-ion battery materials: Model experiments | ||
Steffen Oswald | ||||
13:00 | Mittagspause | |||
14:20 | Konferenzausflug nach Speyer |
Weitere Informationen zum Konferenzausflug und Dinner finden Sie hier.