Gesamtprogramm

Programm

Sonntag 28. September 2014


18:00 Get-Together (Institutsgebäude IFOS GmbH)


Montag 29. September 2014


08:00 Anmeldung
09:00 Eröffnung (Fraunhoferzentrum Kaiserslautern)
09:30 HV1 Thin film characterization with X-ray microscopy using lab-based and synchrotron radiation sources
Ehrenfried Zschech, Sven Niese, Gerd Schneider
Neue methodische und gerätetechnische Entwicklungen
10:10 KV1 Trockenätzkontrolle an einer Reaktivionenätzanlage (RIE) mittels Reflektivitätsanisotropie-Spektroskopie (RAS)
Lars Barzen, J. Richter, H. Fouckhardt, M. Wahl, M. Kopnarski
10:30 KV2 Unkonventionelle Verfahren der Werkstoffcharakterisierung
Hans-Jürgen Ullrich, Alexander Huhle, Marek Danczak, Stefan Radloff, Vinzenz Geske, Niels Modler,Maik Gude, Werner Hufenbach
10:50 KV3 Methodik zur tiefenaufgelösten und quantitativen Nach-weisbarkeit von Chrom(VI) in Elektroisolierbeschichtungen
Theresia Greunz, H. Duchaczek, R. Sagl, R. Steinberger, B. Strauß, D. Stifter
11:10 Pause
11:40 HV2 Quantitative SIMS Tiefenprofilanalyse dünner Schichten – Methoden und Beispiele aus der Praxis –
Kirsten Ingolf Schiffmann
Tiefenprofilanalysen Vorbehandlung von Oberflächen
12:20 KV4 TOF-SIMS Analyse von organischen und anorganischen Multischichtsystemen mit großen Argon- und Sauerstoffclusterionen KV 6 Reinigung proteinbedeckter Substrate
Sven Kayser, Derk Rading, Rudolf Möllers, Ewald Niehuis Fabian Kratz, C. Müller-Renno, C. Scheibe, N. Davoudi, N. Umanskaya, S. Grass, C. Schlegel, M. Hannig, R. Ulber, Ch. Ziegler
12:40 KV5 Präparation von galvannealten Feinblechen mittels Ionenstrahl – Böschungsätzen zur Charakterisierung von Zn-Fe - Phasen KV7 Untersuchungen zum Mechanismus der Aktivierung, Keimbildung und des Zinkphosphatkristallwachstums auf industriell produziertem Stahlfeinblech
Raffaela Sagl, T. Haunschmied, R. Aichinger, M. Arndt, T. Mörtlbauer, C. Commenda, A. Schönauer Fabian Junge, G. Müller, N. Weiher, M. Köckerling
13:00 Mittagspause
14:20 HV3 Elektronische Eigenschaften und Wechselwirkungen an metallorganischen Grenzschichten
Benjamin Stadtmüller, N. Haag, J. Stöckl, J. Seidel, M. Laux, N. Großmann, S. Steil, M. Cinchetti, M. Aeschlimann
Oberflächen- und Grenzflächenanalyse - organische Materialien – Charakterisierung von photonischen Materialien
15:00 KV8 Modification of Metal Electrodes by Self-Assembled for Air stable n-type Organic Field-Effect Transistors KV12 Depth Profiling of OLED Materials by Cluster Ion Beams
Benedikt Baumann, Thomas Weitz, Stefan Lach, Christiane Ziegler Andrey Lyapin, John S. Hammond, Sankar N. Raman, Scott R. Bryan, Nicholas. C. Erickson and Russell J. Holmes
15:20 KV9 Charakterisierung bio/polymermodifizierter Oberflächen mittels XPS und ToF-SIMS KV13 Experimentelle Untersuchung der Mg Dotierung von GaN mittels Atomsonden Tomografie
Michael Bruns, C.M. Preuss, V. Trouillet, V. Winkler, C. Barner-Kowollik Michael Wahl, D. Gregorius, R. Schiller, J. Lösch, M. Kopnarski, S. Khromov, L. Hultman
15:40 KV10 Hybridisierungseffekte an der Grenzfläche zwischen organischen Molekülen und topologischen Isolatoren KV14 Charakterisierung N-substituierter 3,8-Dithienyl-Phenothiazine für die organische Photovoltaik
Sebastian Jakobs, A. Narayan, M. Laux, N. Großmann, D. Jungkenn, A. Ruffing, B. Stadtmüller, A. Droghetti, O. L. A. Monti, R. J. Cava, S. Mathias, S. Sanvito, M. Aeschlimann, M. Cinchetti Mathias Fingerle, Maximilian Hemgesberg, Sebastian Schmitt, Yvonne Schmitt, Stefan Lach, Markus Gerhards, Christoph van Wüllen, Werner R. Thiel und Christiane Ziegler
16:00 KV11 Spinaufgelöste Photoemissionsstudie verschiedener Phthalocyanin-Kobalt-Grenzflächen für Anwendungen in der organischen Spintronik KV15 Thermografie zur Optimierung von LED-Leuchtstoffen
Anna Altenhof, Stefan Lach und Christiane Ziegler Peter Nolte, F. Wagner, S. Loos, F. Steudel, B. Ahrens und S. Schweizer
16:20 Pause
16:40 HV4 Single-molecule reactions – imaging chemical bonds and tuning electronic structure
Alexander Riss
Rastersondenmethoden
17:20 KV16 In situ Rastertunnelmikroskopie-Untersuchung des kristallinen Schichtsystems [(VSe2)1.15]5[(TaSe2)5]
Pavel Shukrynau, Ryan Atkins, David C. Johnson and Michael Hietschold
17.40 Pause
18:00 Postersitzung


Dienstag 30. September 2014


08:10 Workshop Analytical Tribology Network ATN (IFOS Gebäude)
09:50 HV5 Oberflächenanalytik mittels Röntgenphotoelektronen- und Augerelektronenspektroskopie am Beispiel von ZnMgAl-Beschichtungen auf Stahl
D. Stifter
Oxidation von Metallen
10:30 KV17 Verschiedene Aspekte zu XPS-Untersuchungen von ZnCr Korrosionsschutzschichten auf Stahlblech
Roland Steinberger, J. Duchoslav, M. Arndt, T. Steck, F. Lengwin, J. Faderl, D. Stifter
10:50 KV18 Veränderungen der Oxidschicht von gebeiztem Zn-Al-Mg
Daniel Roman Fritz, Christian K. Riener, Raffaela Sagl, Martin Arndt, Martin Rosner, David Stifter
11:10 KV19 AES-Untersuchung des Einflusses von Vor-oxidation auf die Oxidbildung und das Benetzungs-verhalten hochfesten Stahls der 2. Generation (AHSS) nach Feuerverzinkung
Martin Arndt, J. Duchoslav, R. Steinberger, G. Hesser, C. Commenda, L. Samek, D. Stifter
11:30 Moderierte Führung durch die Firmenausstellung
13:00 Mittagspause
14:20 HV6 Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung der Mechanismen von Reibung und Verschleiß
Roland Bennewitz
Triboanalytik 1
15:00 KV20 Bioinspirierte AFM-basierende Methode zur semiquantitativen Messung von lokalen Scherraten an Grenzflächen
Klaus Bonazza, Gerald Schrenk, Johannes Frank, Hanspeter Rottensteiner, Peter Turecek, Günter Allmaier, Gernot Friedbacher
15:20 KV21 Untersuchung des Haftungsmechanismus von PU geschlichteten E-Glas Fasern mittels XPS
Jens Sicking, Thomas Feller, Hans Grablowitz
15:40 KV22 Untersuchung von elementaren Reibkontakten mittels Nano-Ritztest
Alexander Brodyanski, Michael Kopnarski
16:00 Pause
16:40 HV7 Oberflächenanalytik und tribologische Fragestellungen aus den Bereichen Getriebe-, Wälzlager-, Dichtungs- und Schmierungstechnik
Gerhard Poll
Triboanalytik 2
17:20 KV23 Einfluss von Einlaufprozessen auf die Verschleißschutzwirkung von Schmierölen und Schmierfetten im Wälzlager
Gero Burghardt, G. Jacobs, C. Hentschke
17:40 KV24 Charakterisierung von tribologisch beanspruchten Oberflächen mit Oberflächenanalytischen Methoden
Rolf Merz, Michael Kopnarski
18:00 KV25 Characterization of Modified Steel Surfaces with Scanning Auger and Scanning Microprobe XPS
Andrey Lyapin, J. S. Hammond, D. F. Paul, S. Alnabulsi, W. Betz
18:20 KV26 Imaging and Characterization of System Surfaces and Tribologically: Relevant Interaction Processes of Tribological Systems with ToF-SIMS
Ullrich Gunst
18:40 Pause
19:00 Podiumsdiskussion „Tribo meets Surface Analysis“
20.00 Firmenabend


Mittwoch 01. Oktober 2014


8:40 HV8 Aktuelle Herausforderungen und Entwicklungen in der modernen Ionenstrahlanalytik
Johannes von Borany
Nachweis von Wasserstoff in Metallen
9:20 KV27 Analyse von Wasserstoff mit Hilfe der Thermischen Desorptionsmassenspektrometrie TDMS
Mark Schülke, Hubert Paulus, Gábor Kiss, Martin Lammers, Karl-Heinz Müller
9:40 KV28 Wasserstoff in Metallen
S. Wanjelik, Mathias Getzlaff
10:00 Pause
10:10 Laudatio and Awarding of the Badge of Honor of the German Vacuum Society DVG to Professor Dr. Hans Oechsner (IFOS and TU-Kaiserslautern, Germany)
10:30 Laudatio and Presentation of the Rudolf Jaeckel-Prize 2014 of the German Vacuum Society DVG to Professor Dr. Wolf-Dieter Schneider (EPFL, Lausanne, Switzerland)
10:50 Spectroscopic manifestations of low-dimensional physics: A small world
Laureate Lecture by W.-D. Schneider
11:30 Pause
Charakterisierung von Materialien für Li-Ionen Batterien
12:00 KV29 AES investigations at Li-ion battery materials: Challenges and limitations
Martin Hoffmann, S. Oswald, M. Zier, J. Eckert
12:20 KV30 Zusammenhang zwischen der chemischen Zusammensetzung, Mikrostruktur und den elektrochemischen Eigenschaften von Li-Ni-Mn-Co-O Dünnschichtkathoden für Lithium-Ionen Batterien
Marc Strafela, J. Fischer, H. Leiste, M. Rinke, T. Bergfeldt, S. Ulrich, H.J. Seifert
12:40 KV31 XPS energy referencing at Li-ion battery materials: Model experiments
Steffen Oswald
13:00 Mittagspause
14:20 Konferenzausflug nach Speyer

Weitere Informationen zum Konferenzausflug und Dinner finden Sie hier.

Zuletzt geändert: 2014/09/12 11:58