Eingeladene Vorträge
Roland Bennewitz (INM Saarbrücken, Deutschland)
Rasterkraftmikroskopie zur Untersuchung der Mechanismen von Reibung und Verschleiß
J. von Borany (Helmholtz-Zentrum Dresden – Rossendorf)
Aktuelle Herausforderungen und Entwicklungen in der modernen Ionenstrahlanalytik
Gerhard Poll (Leibniz Universität Hannover, Deutschland)
Oberflächenanalytik und tribologische Fragestellungen aus den Bereichen Getriebe-, Wälzlager-, Dichtungs- und Schmierungstechnik
Alexander Riss (TU Wien, Österreich)
Reaktionsmechanismen mit atomar aufgelöstem nc-AFM
Kirsten Ingolf Schiffmann (Fraunhofer IST Braunschweig, Deutschland)
Quantitative SIMS Tiefenprofil Analyse
Benjamin Stadtmüller (TU Kaiserslautern, Deutschland)
Elektronische Eigenschaften und Wechselwirkungen an metallorganischen Grenzschichten
David Stifter (Johannes Kepler Universität Linz, Österreich)
Oberflächenanalytik mittels XPS und AES am Beispiel von ZnMgAl-Beschichtungen auf Stahl
Ehrenfried Zschech (Fraunhofer IKTS Dresden, Deutschland
Thin film characterization with X-ray microscopy using >lab-based and synchrotron radiation sources.
Eingeladene Vorträge des Symposium on Vacuum based Science and Technology SVST8
Unter dem nachstehenden Link finden Sie die Hauptvorträge des SVST8.
»Hauptvorträge SVST8
