Beispiele für konkrete Themen, Anwendungen und Fragestellungen, die wir mit der modernen Oberflächen- und Schichtanalytik bearbeiten:

• Kontaminationen, Beläge, Verfärbungen
• Fehleranalyse an Defekten in Schichtsystemen mit FIB
• Fehleranalytik an thermoplastischen Kunststoffen mit XPS und FTIR
• Analytik an tribologisch beanspruchten Oberflächen
• Tribofilmbildung durch Schmierstoffadditive
• Visualisieren von Gefügestrukturen mit FIB
• Strukturelle und chemische Untersuchungen an geklebten Grenzflächen im TEM
• Quantitative Bestimmung der Zusammensetzung von Schichten auf Glas
• Analyse von Metallschichten in der Halbleiterindustrie mittels SIMS-Tiefenprofilanalyse
• Charakterisierung von DLC-Schichten
• LABS‐freie Bauteile: qualitativer und quantitativer Nachweis von Silikonen auf Oberflächen
• Bestimmung der Massenbelegung chemischer Elemente auf Oberflächen mit SNMS
• Korngrenzen und Phasengrenzen in polykristallinen Materialien auf atomarer Skala
• Schichtdickenbestimmung auf unterschiedlichen Größenskalen
• Untersuchung von Dotierprofilen in Halbleitern